Intellectual Property Sales List
지적재산 사항
| 국내외 구분 | 국내 | 지적재산 형태 | 특허 |
|---|---|---|---|
| 출원번호 | 10-2021-0162873 | 등록번호 | 1026841250000 |
| 별명(고안)의 명칭 | 적층형 반도체의 잠재 불량 스크린 장치 및 그 방법 | ||
| 별명(고안)의 명칭(영문) | Screening apparatus and method for latent defects of stack-type semiconductor | ||
| 지적재산 분야 | 전자 | ||
| 이미지파일[C] | |||
| 첨부파일 | |||
| 특허평가 등급 | 특허평가 점수 | ||
| 기술가치평가 금액 | |||
사업화 정보
| 지적재산 개요 및 요약 | 본 발명은 웨이퍼 또는 패키지 반도체 또는 복수개의 다이 반도체로 적층 구성된 시스템 반도체 또는 다양한 시스템 반도체를 복합 실장하는 시스템 모듈에 초음파를 인가할 수 있도록 초음파를 인가하는 초음파 컨택터, 초음파의 증폭 및 특성을 제어하는 혼구조부 및 초음파 발생 제어를 위한 트랜스듀서 주파수 및 전력제어부, 트레이 핸들러, 컨택터의 정렬 및 초음파 출력 포지션 제어를 위한 초음파컨택터액츄에이터제어부, 초음파 반사파 특성 판별 및 주파수 캘리브레이션을 지원하는 초음파펄서및수신기 및 시스템제어부를 포함하는, 적층형 반도체의 잠재 불량 스크린 장치를 제공한다. |
|---|---|
| 지적재산 거래형태 | 투자유치 ( 협의 ) |
| 협의 후 결정 | |
| 지적재산 단계 | 아이디어 단계 |
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